直线拟合边缘检测法在光电自准直仪中的应用

• 作者: 傅辉清 刘海波 杨博雄 欧同庚 胡新和 郑勇 陈志高
• 来源期刊: 大地测量与地球动力学
• 学科: 工学
• 关键词: CCD细分 亚像素定位 边缘检测 直线拟合 光电自准直仪
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 观测技术
• 页码范围: 127-130
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 字数: 3107字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-5942.2005.01.025

摘要

CCD的分辨率是影响新型光电自准直仪测量精度的关键因素,而边缘检测法是CCD位移测量的主要方法.对数字图像处理中直线拟合边缘检测法进行了详细介绍,并将其应用于高精度一维光电自准直仪的研制.