应用拓扑指数预测阴离子表面活性剂临界胶束浓度

• 作者: 丁伟 于涛 刘先军 李国忠
• 来源期刊: 大庆石油学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 拓扑指数 定量结构-性能相关 临界胶束浓度 阴离子表面活性剂 结构参数
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 石油科技
• 页码范围: 55-57
• 页数: 3页
• 分类号: TQ423.11
• 字数: 2108字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-4107.2005.01.018

摘要

用拓扑方法研究了阴离子表面活性剂临界胶束浓度cm与分子结构的关系.根据分子结构的特点,用距离矩阵表征分子中原子的连接性,据此建立了结构基础明确的模型.应用该模型预测了不同结构阴离子表面活性剂的cm,结果表明,预测值满足精度要求,相关因数为0.998 1.应用该模型,不仅能够合理表征阴离子表面活性剂的结构-性能关系,而且有助于揭示物质结构与性能之间的关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁伟	大庆石油学院化学化工学院	74	723	15.0	22.0
2	于涛	大庆石油学院化学化工学院	57	651	14.0	22.0
3	刘先军	大庆石油学院化学化工学院	5	49	5.0	5.0