微流控芯片检测技术进展

• 作者: 朱睿 肖松山 范世福
• 来源期刊: 纳米技术与精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 微流控芯片 荧光 光学 电化学检测
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 微机电系统
• 页码范围: 74-79
• 页数: 6页
• 分类号: TH83
• 字数: 3222字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6030.2005.01.015

摘要

对近年来用于微流控芯片的光学检测(包括荧光、吸收光度和电化学发光检测等)、电化学检测(电导检测、电位检测及安培检测)的发展和其他一些检测方法的研究成果进行了综述.随着微加工技术的不断发展,高速多通道检测以及集成多种方法的高通用性微流控检测芯片都将成为未来的研究热点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范世福	天津大学精密仪器与光电子工程学院	87	1596	20.0	38.0
2	朱睿	天津大学精密仪器与光电子工程学院	2	38	1.0	2.0
3	肖松山	天津大学精密仪器与光电子工程学院	25	330	11.0	17.0