大位移电子散斑干涉法

• 作者: 周灿林 李方 王蕴珊
• 来源期刊: 光电子·激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 电子散斑干涉(ESPI) 数字散斑相关法(DSCM) 位移测量 相移法
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 测量·检测
• 页码范围: 1472-1475
• 页数: 4页
• 分类号: O348
• 字数: 2811字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-0086.2005.12.020

摘要

针对电子散斑干涉(ESPI)法处理大位移时的困难,提出了一种改进的ESPI法.将数字散斑相关法(DSCM)引入ESPI中,由DSCM计算引起散斑去相关的面内位移,将所得二维面内位移对失配散斑场进行校准,恢复干涉条纹.用对离面位移敏感的ESPI光路,结合相移方法求得对应离面位移的相位数据,和二维面内位移一起,构成物体三维位移.对周边固定、中心加载的有机玻璃试件进行了测量,结果表明能产生质量干涉条纹,证明该方法是合理、可行的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王蕴珊	山东大学物理与微电子学院	20	149	7.0	11.0
2	周灿林	山东大学物理与微电子学院	22	292	9.0	16.0
3	李方	中山大学生命科学院	7	107	5.0	7.0