基于CCD的电子散斑干涉系统中离面位移的测定

• 作者: 张巧芬 王昆 石智伟
• 来源期刊: 广东工业大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电子散斑干涉 离面位移 CCD测量技术 三维重构
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 页码范围: 49-51
• 页数: 3页
• 分类号: TN247
• 字数: 1886字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7162.2008.04.013

摘要

简要介绍电子散斑干涉系统的组成部分、散斑干涉原理以及离面位移测量的检测原理,并采用了最新处理光学信息的CCD测量技术,利用软件画出测试表面受力变形后的三维重构图,同时得出变形后物体在X方向和Y方向的离面位移.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石智伟	广东工业大学信息工程学院	18	42	4.0	5.0
2	王昆	广东工业大学信息工程学院	21	71	5.0	7.0
3	张巧芬	广东工业大学信息工程学院	11	145	4.0	11.0