反走样技术在计算机图形仿真中的运用

• 作者: 杨爱良 杨睿 熊智勇
• 来源期刊: 计算机仿真
• 学科: 工学
• 关键词: 反走样 扫描转换 像素 亮度
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 仿真方法与算法
• 页码范围: 124-125,217
• 页数: 3页
• 分类号: TP391
• 字数: 1336字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-9348.2005.04.035

摘要

阐述了反走样技术的基本原理和实现方法,重点描述了计算机图形中的直线反走样算法.该文采用的算法是基于三像素线宽的,通过调整像素的亮度来消除直线绘制中的锯齿现象.并把该算法推广到圆和椭圆的反走样.最后,采用改进的直线扫描转换算法与反走样算法相结合,进一步提高了反走样直线的绘制速度.该算法利用了直线的多段特性,以及空间对称特性.仿真表明,相比于Bresenham的算法,该算法的速度大为提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨爱良	上海交通大学电子信息学院	3	21	2.0	3.0
2	杨睿		1	17	1.0	1.0
3	熊智勇		1	17	1.0	1.0