新型天线测试配置降低总测量测试时间

• 来源期刊: 世界电子元器件
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 测试与测量
• 页码范围: 72-76
• 页数: 5页
• 字数: 5585字
• 语种: 中文

摘要

随着变得越来越复杂,其测试要求也变得越来越复杂,相应的技术也正在不断变化,这些技术进步可以提供一条降低总测试时问的途径,从而提高测试量程的生产效率.本文将介绍这种新技术在天线/RCS测量中的特点、配置,典型天线/RCS测量方案,以及不同测量方案的测量时间比较,从而考察这种新技术在天线测量中降低测量时间的效果.