原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
对相控阵天线的特性需要选择合适的测试方法进行测试,为了研究相控阵天线的远场测试,采用远场的测试场测量,对相控阵天线的EIRP、G/T值以及方向图等指标特性的测量方法进行了介绍和研究,并进行了波束修正与电平补偿的说明,此测试方法可准确测量相控阵天线的远场性能并应用于工程实践.
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内容分析
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文献信息
篇名 相控阵天线远场测试场测量方法
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 相控阵天线 远场测试 EIRP G/T 天线方向图
年,卷(期) 2013,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 54-56
页数 分类号 TN82?34
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 倪淑燕 装备学院光电装备系 18 35 4.0 5.0
2 程乃平 装备学院光电装备系 28 73 5.0 6.0
3 窦晓杰 4 18 2.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
相控阵天线
远场测试
EIRP
G/T
天线方向图
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
总下载数(次)
0
总被引数(次)
135074
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