宽角扫描相控阵天线测量方法

• 作者: 傅德民 冯学勇 杨林 王伊 王建晓 龚书喜
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 平面近场天线测量 相控阵天线 坐标变换 探头补偿
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 页码范围: 40-44
• 页数: 5页
• 分类号: TN82
• 字数: 2700字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2015.02.007

摘要

提出了一种基于坐标变换技术的宽角扫描相控阵天线测量的新方法，用于解决常规平面近场测量方法难以对宽角扫描相控阵天线进行精确测量的问题。在对用于宽角扫描相控阵天线测量的坐标变换技术进行理论分析的基础上，采用计算机模拟对该测试方法进行了数值仿真，制作天线实物进行了试验验证。数值仿真结果和试验结果均表明，该方法用于宽角扫描相控阵天线的测试具有较高的准确性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龚书喜	西安电子科技大学天线与微波技术重点实验室	149	1100	16.0	23.0
2	杨林	西安电子科技大学天线与微波技术重点实验室	25	84	6.0	7.0
3	傅德民	西安电子科技大学天线与微波技术重点实验室	59	546	12.0	21.0
4	王建晓	西安电子科技大学天线与微波技术重点实验室	4	16	3.0	4.0
5	冯学勇	西安电子科技大学天线与微波技术重点实验室	5	20	4.0	4.0
6	王伊	西安电子科技大学天线与微波技术重点实验室	4	12	2.0	3.0