Rs测试标准的探讨

• 作者: 何健 张其劭 张映敏 罗正祥 羊恺 黎涛
• 来源期刊: 低温物理学报
• 关键词: 高温超导薄膜 微波表面电阻 介质谐振器 品质因数
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 页码范围: 185-187
• 页数: 3页
• 字数: 1322字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2005.02.016

摘要

本文在目前国际上正在制订的高温超导薄膜微波表面电阻Rs标准测量方案的基础上,介绍了国内正在研制的测试方法和系统.该系统采用低损耗高介电常数的兰宝石构成工作在TE011δ谐振模式的介质谐振器,在原有研究基础上利用电磁场仿真,改变了输入和输出耦合方式,在77K时,利用它对单片高温超导薄膜Rs进行测试,提高了整个测试系统的品质因素,可成功地用于10×10mm2,10×15mm2和Φ51mm等多种规格样片的测试.整个测试系统体积小,操作方便,且所需实验条件简单,测试灵敏度高,重复性好,对高温超导薄膜无损伤.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗正祥	电子科技大学微波测试中心	74	751	14.0	24.0
2	羊恺	电子科技大学微波测试中心	65	331	9.0	14.0
3	张其劭	电子科技大学微波测试中心	32	275	10.0	15.0
4	张映敏	电子科技大学微波测试中心	6	25	3.0	5.0
5	黎涛	电子科技大学微波测试中心	1	0	0.0	0.0
6	何健	电子科技大学微波测试中心	2	4	1.0	2.0