RFID系统测试标准体系研究

• 作者: 朱建红 李倩 李金华 李鹰 郑庆川
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 射频识别技术 测试标准体系 SITSE模型 三维测试
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 综述与展望
• 页码范围: 43-47
• 分类号: T-652.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2010.02.011

摘要

基于RFID技术的应用系统逐渐普及于交通、物流和医疗等领域,在RFID系统的整个生命周期,从设计、建设、运行、改造到废弃,建立标准的规范一直是RFID系统测试标准体系建立的宗旨.于是课题组首先提出了SITSE模型,保证了测试标准指标建立的可追踪性,并依据SITSE模型的原则来指导、建立三维RFID测试标准体系,指导RFID系统的测试过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑庆川		4	14	2.0	3.0
2	李金华		3	17	2.0	3.0
3	李倩		10	40	4.0	6.0
4	李鹰		1	11	1.0	1.0
5	朱建红		2	17	2.0	2.0