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摘要:
建立了抗蚀剂表面曝光量分布与抗蚀剂内部PAC浓度分布之间的关系,通过分析抗蚀剂内部PAC浓度分布特点,发现了抗蚀剂显影过程中的壁垒效应.在此基础上,提出一种新颖的微浮雕面形控制方法--等PAC浓度曲线面形控制技术.该方法克服了抗蚀剂显影模型精度以及显影不稳定性对浮雕面形的影响,使光刻胶上微结构浮雕深度超过100μm,面形均方根误差小于1μm.
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文献信息
篇名 连续微浮雕面形控制的新方法
来源期刊 激光与光电子学进展 学科 工学
关键词 微光学元件 面形控制 壁垒效应 光刻模型
年,卷(期) 2005,(12) 所属期刊栏目 2005年中国学者在国外著名光学期刊上发表的部分科研成果简介
研究方向 页码范围 25,22
页数 2页 分类号 TN2
字数 1187字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杜春雷 中国科学院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室 72 596 14.0 18.0
2 董小春 中国科学院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室 20 154 8.0 11.0
3 王长涛 中国科学院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室 14 65 5.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
微光学元件
面形控制
壁垒效应
光刻模型
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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期刊影响力
激光与光电子学进展
半月刊
1006-4125
31-1690/TN
大16开
上海市嘉定区清河路390号(上海市800-211信箱)
4-179
1964
chi
出版文献量(篇)
9127
总下载数(次)
28
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