半导体可饱和吸收镜的光损伤阈值测量

• 作者: 吴祖斌 张志刚 曹士英 朱晓农 李建萍 王勇刚 王清月 赵友博
• 来源期刊: 纳米技术与精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体可饱和吸收镜 损伤阈值 飞秒脉冲激光
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 精密测量
• 页码范围: 142-145
• 页数: 4页
• 分类号: TN248.1
• 字数: 2055字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6030.2005.02.011

摘要

半导体可饱和吸收镜(SESAM)在飞秒脉冲激光器锁模中,是一种非常有潜力的锁模启动器.其损伤阈值的高低与连续锁模阈值比较相近,极易损伤,因而研究在飞秒激光作用下SESAM的损伤阈值很有必要.利用飞秒激光分别对单晶硅、自然生长SESAM及腐蚀后SESAM在50fs、200fs和400fs脉宽下进行了表面烧蚀研究,并且保证每次烧蚀的激光脉冲个数为50个.结果发现单晶硅和自然生长SESAM的损伤阈值要高于腐蚀后SESAM,随脉宽的增加而逐渐增大;而腐蚀后SESAM的损伤阈值却随脉宽的增加而逐渐减小.