微波表面电阻TC90方案的测量精度实验分析

• 作者: 吉争鸣 吴培亨 孙国柱 许伟伟 郭大元
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 高温超导薄膜 表面电阻 测量误差
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 页码范围: 711-716
• 页数: 6页
• 分类号: O51
• 字数: 3063字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2005.z1.063

摘要

由于超导薄膜的表面阻抗Rs这一参量对超导微波元件的设计和开发有很重要意义,测量超导薄膜的表面阻抗Rs也就非常重要.目前国际上制定了高温超导薄膜在微波波段上表面阻抗Rs电特性的标准测量方案:IEC/TC90.此方案采用介质杆谐振器法测量表面阻抗的原理,使用蓝宝石介质杆和超导膜组成的谐振器法测量超导膜的Rs.本文分析了各个测量量对标准测量方案的测量精度,分析了在12GHz微波频率下,系统的各个实际部件的加工误差.认为频谱曲线的测量误差,即背景误差对最终测量结果Rs的影响是主要的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许伟伟	南京大学电子科学与工程系	69	148	6.0	9.0
2	郭大元	南京大学电子科学与工程系	7	17	3.0	4.0
3	吴培亨	南京大学电子科学与工程系	93	237	8.0	12.0
4	吉争鸣	南京大学电子科学与工程系	36	111	6.0	9.0
5	孙国柱	南京大学电子科学与工程系	24	18	3.0	3.0