标准模型下γγ→μ+μ-过程的弱电辐射修正

• 作者: 孙红娟 方祯云 胡炳全
• 来源期刊: 重庆大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 弱电辐射修正 散射截面 质心能量 微分截面
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 所属期刊栏目: 数学·物理·化学·生物技术
• 页码范围: 104-107
• 页数: 4页
• 分类号: O413.3
• 字数: 3045字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-582X.2005.10.027

摘要

通过在标准模型下对双光子碰撞产生正负μ子对的弱电辐射修正--包括虚修正和软光子修正的计算,得到了单圈修正下γγ→μ+μ-过程的散射截面.并在较大范围内给出了树图和单圈弱电修正下散射截面随质心能量√s的变化关系.此结果对双光子碰撞产生Higgs粒子的测量背景扣除具有重要意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡炳全	重庆大学数理学院	13	15	3.0	3.0
2	孙红娟	重庆大学数理学院	3	36	2.0	3.0
6	方祯云		1	0	0.0	0.0