样本容量对子孔径拼接检测精度影响的分析

• 作者: 张均 张蓉竹 杨毅松 董军 蔡邦维 许乔
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 子孔径拼接 样本容量 精度 统计理论
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 光电检测
• 页码范围: 61-64
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 字数: 3186字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-3392.2005.01.018

摘要

应用数理统计理论及线性回归分析方法,详细分析了在子孔径拼接检测中样本容量对测量精度的影响.通过计算,确定了当子孔径拼接干涉检测中样本容量大于104时,既可保证检测精度,又能减小计算的复杂程度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许乔		82	1074	17.0	27.0
2	蔡邦维	四川大学电子信息学院	66	756	15.0	24.0
3	张蓉竹	四川大学电子信息学院	107	573	10.0	20.0
4	董军	四川大学电子信息学院	6	64	5.0	6.0
6	张均	四川大学电子信息学院	6	57	4.0	6.0
7	杨毅松	四川大学电子信息学院	5	31	4.0	5.0