X-ICT中连续谱服从Gauss分布的硬化修正研究

• 作者: 彭光含 杨学恒
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: X射线检测 工业计算机断层扫描成像技术 连续谱 高斯分布 硬化修正
• 年，卷（期）: 2005,（11）
• 所属期刊栏目: 科研成果与学术交流
• 页码范围: 565-568
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 2685字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2005.11.002

摘要

在X射线工业计算机断层扫描成像技术(X-ICT)中,X射线源的能谱I0(E)为入射强度随能量E的分布函数.而分布函数I0(E)与E的关系随X射线管电压不同而变化,需要通过试验测定.入射强度分布函数是大量光子运动的统计规律,由于Gauss分布在统计中的普遍性,同时,相关文献对X射线源能谱的试验研究分析,表明X射线源能谱与Gauss分布的相似性,因此可用Gauss分布来描叙X射线源连续谱I0(E)的分布规律.提出了X-ICT中X射线能谱服从Gauss分布的硬化修正模型和新的软件修正程序方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨学恒	重庆大学数理学院	39	294	9.0	15.0
2	彭光含	湖南文理学院物电系	49	241	8.0	12.0