双分集最大比合并相关瑞利衰落的误码性能

• 作者: 李忻 聂在平
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 相关瑞利衰落 最大比合并 误比特率 MPSK CFSK
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 151-153
• 页数: 3页
• 分类号: TN911.2
• 字数: 1220字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2005.02.004

摘要

给出MPSK与CFSK在双分集最大比合并相关瑞利衰落信号下的误比特率的解析结果,无需冗长的模拟,易于研究分集合并与信道相关性对系统性能的影响,其数值结果与先前的研究结果一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	聂在平	电子科技大学电子工程学院	216	2216	23.0	36.0
2	李忻	电子科技大学电子工程学院	9	182	6.0	9.0