C8051F020 MCU在核谱测量系统中的应用研究

• 作者: 周建斌 周蓉生 黄锦华
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 滑尺 核谱测量 C8051F020 微分非线性 死时间
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 页码范围: 515-518
• 页数: 4页
• 分类号: TL822
• 字数: 1814字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2005.05.016

摘要

利用高性能的C8051F020单片机设计了一种核谱测量系统,系统与微机连接实现了谱数据的实时采集.直接利用C8051F020已经封装的一个12位的100kHz的逐次逼近型ADC,两路12位的电压型DAC中的一路,片上的4k字节XRAM,加上过峰检测电路构成多道分析系统.利用C8051F020上ADC0的差分输入,一路为输入信号,一路为DAC0的输出,实现滑尺,可以明显地改善测量谱仪的微分非线性.用NaI(Tl)探测器的信号作测试,实测了137Cs的谱图.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周建斌	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	80	499	13.0	16.0
2	周蓉生	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	68	865	16.0	25.0
3	黄锦华	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	4	29	2.0	4.0