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摘要:
机械工业中准确度高的微小零件采用投影仪进行测量,传统投影仪受瞄准、计算等人的因素影响引入误差,测量准确度受到影响,本文通过对投影仪测量光路和准确度分析,对CMOS/CCD光电成像原理进行分析.采用CMOS/CCD矩阵成像技术改进传统投影仪,并对改进后投影仪原理、参数进行了分析对比,对改造后的光路、性能、与计算机的接口、数控技术连接和经济性能等技术参数与传统投影仪进行对比,从中可以看出其改进后的优越性.
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文献信息
篇名 CMOS/CCD矩阵改进投影仪系统
来源期刊 中国测试技术 学科 工学
关键词 测量准确度 CMOS/CCD矩阵 投影仪
年,卷(期) 2005,(6) 所属期刊栏目 现代仪器与传感器
研究方向 页码范围 139-141
页数 3页 分类号 TH741
字数 3055字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1674-5124.2005.06.042
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王傲胜 4 10 2.0 3.0
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2005(0)
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研究主题发展历程
节点文献
测量准确度
CMOS/CCD矩阵
投影仪
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国测试
月刊
1674-5124
51-1714/TB
大16开
成都市成华区玉双路10号
26-260
1975
chi
出版文献量(篇)
4463
总下载数(次)
7
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