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摘要:
利用理论分析和计算机仿真相结合的方法.对三种常用的二维均匀天线阵列(方阵、圆阵、L阵)的空间方向特性进行了深入的理论和仿真实验研究.推导出了三种二维阵列结构的空间方向分辨率的工程近似计算公式,并得到了它们之间的关系;分析了阵元间的互耦对空间方向分辨率的影响,得出了互耦对空间方向分辨率没有影响或影响很小的结论,并对该结论进行了解释;对由工程近似计算得到的空间方向分辨率和计算机仿真得到的实际的空间方向分辨率进行了比较,指出了工程近似计算公式的局限性.
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文献信息
篇名 二维均匀天线阵列空间方向分辨率的研究
来源期刊 测试技术学报 学科 工学
关键词 二维阵列 空间方向分辨率 互耦 阵列模式 互耦阻抗矩阵
年,卷(期) 2005,(4) 所属期刊栏目 信号处理、算法与仿真
研究方向 页码范围 388-393
页数 6页 分类号 TN828.6
字数 4482字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-7449.2005.04.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郭玉华 中国科学技术大学电子工程与信息科学系 3 7 2.0 2.0
2 戴旭初 中国科学技术大学电子工程与信息科学系 85 552 11.0 20.0
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研究主题发展历程
节点文献
二维阵列
空间方向分辨率
互耦
阵列模式
互耦阻抗矩阵
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测试技术学报
双月刊
1671-7449
14-1301/TP
大16开
太原13号信箱
22-14
1986
chi
出版文献量(篇)
2837
总下载数(次)
7
总被引数(次)
13975
论文1v1指导