脉冲红外热成像无损检测系统分辨力研究

• 作者: 祖小涛 薛书文
• 来源期刊: 激光与红外
• 学科: 工学
• 关键词: 红外热成像 缺陷 无损检测
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 红外技术
• 页码范围: 410-412
• 页数: 3页
• 分类号: TN219
• 字数: 1293字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5078.2005.06.008

摘要

本文从理论上给出评价脉冲红外热成像无损检测分辨能力的依据,并以尼龙试件为例探讨了检测系统分辨力与缺陷深度、大小及检测时间之间的关系,从理论上给出检测系统对尼龙试件中缺陷深度和大小的检测极限分别为2.5mm和2.7mm,以及最佳的检测时间为热脉冲作用后的35s左右.同时,将理论结果与实验结果作了对比验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祖小涛	电子科技大学应用物理系	111	627	12.0	17.0
2	薛书文	电子科技大学应用物理系	10	80	5.0	8.0