X-射线荧光光谱法测定生铁中硅和磷

• 作者: 徐增芹 甄洪香 葛镧
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: 偏振式能量色散型X-射线荧光光谱仪 生铁 次级靶
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 工作简报
• 页码范围: 41-42
• 页数: 2页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1270字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2005.04.011

摘要

探讨了应用能量色散型X-射线荧光光谱仪测定生铁中硅和磷的炉前快速分析方法.该方法所得测定结果与化学法测定结果或标样认定值相吻合,相对标准偏差小于1.3%,与化学法相比,硅和磷的测定时间由15 min缩短到2 min.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛镧	济南钢铁集团总公司技术监督处	5	21	3.0	4.0
2	甄洪香	济南钢铁集团总公司技术监督处	4	20	3.0	4.0
3	徐增芹	济南钢铁集团总公司技术监督处	13	45	4.0	6.0