Nakagami衰落信道下相干和差分检测RAKE接收机性能研究

• 作者: 刘洋
• 来源期刊: 武汉理工大学学报（信息与管理工程版）
• 学科: 工学
• 关键词: DS-CDMA Nakagami衰落信道 RAKE接收机 位错概率(BEP)
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 信息科学与技术
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TN911
• 字数: 3027字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3963/j.issn.1007-144X.2005.05.002

摘要

讨论了运用最大比值合并技术(MRC)对RAKE接收机进行相干和差分检测,研究手段是使用瞬时干扰功率计算法取代平均功率近似法.分析并得出了系统位错概率(BEP)的数学模型,并给出了该模型和高斯近似模型的一系列数值仿真结果.经比较得出结论,模型对比高斯仿真模型,性能更加出色,尤其是在用户较少和多址干扰参数较低的情况下.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘洋	武汉理工大学信息工程学院	39	253	9.0	15.0