综合孔径微波辐射计的技术发展及其应用展望

• 作者: 刘浩 吴季 姜景山 孙伟英
• 来源期刊: 遥感技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 综合孔径微波辐射计 被动微波遥感 成像辐射计
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 24-29
• 页数: 6页
• 分类号: TP722.6
• 字数: 4925字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-0323.2005.01.005

摘要

介绍了综合孔径微波辐射计成像的基本原理,回顾了干涉式综合孔径技术在过去十余年间的发展历程,较详细地介绍并分析了目前世界上已有或在研的综合孔径微波辐射计系统,其中包括美国的ESTAR及其2D-STAR,GeoSTAR计划,欧空局SMOS计划上的主载荷MIRAS,芬兰赫尔辛基技术大学的HUT-2D,以及中科院空间中心研制的C波段及X波段综合孔径微波辐射计等.最后,对干涉式综合孔径技术的应用前景作了简要介绍与展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜景山		8	181	6.0	8.0
2	吴季		2	93	2.0	2.0
3	刘浩		1	84	1.0	1.0
4	孙伟英		1	84	1.0	1.0