饱和电抗器特性单片机测试仪研究

• 作者: 张俊峰 李维波 毛承雄 陆继明
• 来源期刊: 电力系统及其自动化学报
• 学科: 工学
• 关键词: 饱和电抗器 输出特性 单片机 测试仪
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 58-62
• 页数: 5页
• 分类号: TM933.1
• 字数: 2550字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8930.2005.02.012

摘要

介绍一种研究可控饱和电抗器输出特性的单片机测试仪,用于检测并处理可控饱和电抗器中的感应线圈电压波形的平均值、有效值.当交流激励直接让饱和电感处于饱和状态时,研究感应线圈电压与直流偏磁磁势之间的关系曲线,并绘制它的开环输出特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毛承雄	华中科技大学电气与电子工程学院	161	4685	38.0	61.0
2	陆继明	华中科技大学电气与电子工程学院	133	3470	32.0	52.0
3	李维波	华中科技大学电气与电子工程学院	35	828	17.0	28.0
4	张俊峰	华中科技大学电气与电子工程学院	8	85	5.0	8.0