高速电路的信号完整性分析

• 作者: 孙宇贞
• 来源期刊: 电子技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: 信号完整性 反射 串扰 IBIS仿真
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 集成电路应用
• 页码范围: 73-76
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 字数: 3823字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-7998.2005.03.026

摘要

介绍了高速PCB设计中的信号完整性概念以及破坏信号完整性的原因,从理论和计算的层面上分析了高速电路设计中反射和串扰的形成原因,并介绍了IBIS仿真.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙宇贞	上海电力学院信息与控制技术系	25	122	5.0	10.0