Bi系多芯丝超导带材的超导性能与微观组织分析

• 作者: 于泽铭 刘奉生 卢亚锋 周廉 张平祥 徐晓燕 李成山 梁明 熊晓梅 王庆阳 纪平 郑会玲 郑俊涛 郝清滨 马荣超
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: Bi-2223带材 微观结构 临界电流密度
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 页码范围: 728-731
• 页数: 4页
• 分类号: O51
• 字数: 1719字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2005.z1.066

摘要

本文采用XRD和SEM技术分析了具有不同临界电流密度(Jc)的Bi系多芯超导带材.结果表明,样品中Bi-2223晶粒高度取向排列,其取向因子F值在0.947～0.977范围内.SEM分析结果发现,高Jc样品中在平行于带材平面的片状的Bi-2223晶粒的晶界处残留的杂质主要为CuO晶粒,它与Bi-2223晶体结合紧密.在低Jc 的样品中,Bi-2223晶片边界存在的杂质颗粒尺寸较大,其成分为(Sr,Ca)CuO和CuO的混合体.样品的横断面和纵断面的SEM观察发现,在高性能的样品中,芯丝烧结体的致密度较高.枝条状Bi-2223晶体穿过银层,在芯丝之间形成了很强的连接体.本文讨论了临界电流密度与微观组织的关系.