纳米材料检测中透射电镜样品的制备

• 作者: 杜会静
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: 透射电镜 纳米材料 TEM样品制备
• 年，卷（期）: 2005,（9）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 463-466,474
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.21
• 字数: 6304字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4012.2005.09.009

摘要

介绍了目前几种适用于纳米材料透射电镜样品制备的方法,如包埋法、改进的胶粉混合法、聚焦离子束法等,并对这些方法的优缺点进行了分析.包埋法和改进的胶粉混合法是可供选择的较好制样方法;对于块状试样,聚焦离子技术是一种精确定位和高效减薄的制样方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜会静	燕山大学理学院	8	90	3.0	8.0