基于Nios红外图像实时非均匀性校正研究

• 作者: 孔令彬 戚建汉 王川 许鸿文
• 来源期刊: 华中科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 红外焦平面阵列 非均匀性校正 微测辐射热计 现场可编程门阵列 可编程单芯片系统
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 页码范围: 70-72
• 页数: 3页
• 分类号: TN215
• 字数: 2521字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2005.12.022

摘要

针对红外成像系统在图像处理中所涉及的数据量大,实时处理难于实现的特点,运用Altera公司SOPC-Nios嵌入式软核心处理器技术,提出一种利用FPGA硬件实现红外焦平面阵列实时非均匀性两点校正的方法.该方法针对非均匀性校正关键的内部循环和耗时算法,创建Nios嵌入式处理器的定制指令,将复杂的顺序指令简化为硬件实现的单指令,用硬件实现校正算法,极大地提高了系统的处理速度和性能,有效地解决了红外成像技术中实时性难题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孔令彬	中国地质大学机械与电子工程学院	23	170	8.0	12.0
2	王川	华中电网有限公司通信处	1	9	1.0	1.0
3	许鸿文	中国地质大学机械与电子工程学院	7	29	4.0	5.0
4	戚建汉	中国地质大学机械与电子工程学院	1	9	1.0	1.0