IP性能测试方法及使用寿命的研究

• 作者: 翟伟 陈治安
• 来源期刊: 医疗设备信息
• 学科: 医学
• 关键词: 性能测试 成像板 计算机X线摄影
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 研究论著
• 页码范围: 9-10
• 页数: 2页
• 分类号: R814.42
• 字数: 1554字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-1633.2005.12.004

摘要

目的研究适合临床的IP性能测试方法并探讨CR IP实际使用寿命.方法根据CR系统影像处理"四象限"理论,调整相关象限参数,去除后处理影响,使整个CR系统如同屏/片组合.利用这种IP性能测试方法对20块IP进行铝梯及线对卡测试,所得数据进行统计学分析,以判断IP使用寿命.结果在万次曝光范围内,使用不同次数的IP性能无显著性差异(P＞0.05);IP淘汰原因主要是机械划伤、异物擦伤.结论在CR运行过程中应注重使用环境、机械维护、使用方法的重要性,以延长IP使用寿命,减少成本消耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟伟	中国医科大学第二临床学院放射科	12	79	6.0	8.0
2	陈治安	中国医科大学第二临床学院放射科	1	3	1.0	1.0