基于BIST软件测试思想的单元测试框架

• 作者: 徐拾义 杨艳芳
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 软件测试 BIST 白盒测试 路径覆盖 测试框架
• 年，卷（期）: 2005,（17）
• 所属期刊栏目: 软件技术与数据库
• 页码范围: 92-94
• 页数: 3页
• 分类号: TP311
• 字数: 2851字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2005.17.033

摘要

BIST是一种成熟的硬件可测性设计的方法,BIST软件测试思想则借用了该技术,它主要包括模板和自治测试部分两大基本结构.在该思想的指导下,整合测试用例、测试点、插装函数、测试报告等测试要素,提出了各个要素的存储或使用方式,以路径覆盖为测试目标,提出了一种BIST软件自测试的测试框架.实践证明,该测试框架有利于BIST软件测试思想的进一步研究和实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐拾义	上海大学计算机学院	31	182	8.0	12.0
2	杨艳芳	上海大学计算机学院	22	19	3.0	4.0