低压功放IC特性异常现象的模拟分析

• 作者: 孟莹 焦慧芳 贾新章
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 肖特基二极管 模型参数 计算机模拟 PCM测试图形
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 计量与测试技术
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TN311+.7|TP391.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2006.03.005

摘要

在分析某低压功放集成电路动能原理的基础上,针对该电路成品测试中出现的特性异常现象,结合原理分析,采用模拟仿真的方法,分析、再现异常现象,确定了导致特性异常的原因,并通过对PCM测试图形的测试,验证了分析结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾新章	西安电子科技大学微电子学院	63	572	14.0	20.0
2	焦慧芳	西安电子科技大学微电子学院	15	73	5.0	8.0
3	孟莹	西安电子科技大学微电子学院	1	0	0.0	0.0