钴同晶取代磷酸(硅)铝分子筛的表征

• 作者: 乔炜 袁昊 解丽丽
• 来源期刊: 上海第二工业大学学报
• 学科: 化学
• 关键词: 同晶取代 磷酸(硅)铝分子筛 表征
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 页码范围: 99-106
• 页数: 8页
• 分类号: O621.25+5
• 字数: 4867字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4543.2006.02.003

摘要

对钴同晶取代磷酸(硅)铝分子筛的表征进行了综述,主要是关于如何判断骨架掺杂成功以及钴离子的掺杂位置、掺杂价态、所处的微环境以及掺钴磷酸(硅)铝分子筛性质(如酸性和氧化还原活性位)等方面的表征,涉及X射线衍射、紫外可见光谱、电子顺磁(自旋)共振谱、核磁共振、X射线吸收谱、程序升温技术和红外光谱等手段在钴同晶取代的磷酸(硅)铝分子筛表征中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	解丽丽	上海第二工业大学环境工程系	35	138	8.0	9.0
2	袁昊	上海第二工业大学环境工程系	41	198	8.0	10.0
3	乔炜	上海第二工业大学环境工程系	8	34	4.0	5.0