恒星内部电荷屏蔽对β衰变率的影响

• 作者: 孙庆强 朴红光 罗志全 黄增光
• 来源期刊: 天文学进展
• 学科: 地球科学
• 关键词: 天体物理学 β衰变率 电荷屏蔽 核合成 恒星演化
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 页码范围: 380-386
• 页数: 7页
• 分类号: P1
• 字数: 3047字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8349.2006.04.008

摘要

针对低能反应和共振跃迁,分析了在恒星内部电荷屏蔽对β衰变率的影响.对共振跃迁的分析是基于核的壳层模型.作为例子,详细计算了电荷屏蔽对56Cr的β衰变的影响.结果表明:在较低温度和高密度下,电荷屏蔽使β衰变率有明显的增加.这对恒星晚期演化和超新星爆发研究可能会有重要的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朴红光	淮海工学院数理科学系	12	22	2.0	4.0
2	黄增光	淮海工学院数理科学系	9	19	3.0	4.0
3	罗志全	西华师范大学物理与电子信息学院	46	21	3.0	3.0
4	孙庆强	淮海工学院数理科学系	11	11	2.0	3.0