统计技术在硅单晶辐照生产质量控制中的应用

• 作者: 刘凤林 许绍明 赵喜君 陈君林
• 来源期刊: 核标准计量与质量
• 学科: 经济
• 关键词: 统计技术 硅单晶辐照 质量控制
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 质量管理
• 页码范围: 18-23
• 页数: 6页
• 分类号: F4
• 字数: 3411字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-453X.2006.04.005

摘要

统计技术是质量管理体系中一个非常重要的基础性方法和手段,是科研生产和质量控制的重要工具,具有重要的实用价值.本文意在通过统计技术在硅单晶辐照生产质量控制中的应用,来为提高中照服务质量控制提供一点建设性意见.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许绍明		1	0	0.0	0.0
2	赵喜君		1	0	0.0	0.0
3	刘凤林		1	0	0.0	0.0
4	陈君林		1	0	0.0	0.0