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摘要:
介绍了利用相位掩模技术刻制光纤Bragg光栅的基本原理,并利用相位掩模板技术在增敏后的光纤上刻制出了单模和折射率渐变少模光纤布拉格光栅.实验结果表明单模光纤光栅在1 080 nm波长附近透射谱的峰值达到了-49 dB以上,几乎达到其理想值;刻制的折射率渐变少模光纤光栅的反射谱显示约有8个特征峰,其峰值约为7~8 dB,反射率达到了80%以上,并对这种光纤光栅的反射谱进行了理论分析,结果表明理论与实验结果符合得较好.
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文献信息
篇名 刻制单模和折射率渐变少模光纤光栅的研究
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 折射率渐变 光纤Bragg光栅 相位掩模 少模光纤
年,卷(期) 2006,(1) 所属期刊栏目 材料、结构及工艺
研究方向 页码范围 42-44
页数 3页 分类号 TN253
字数 2137字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5868.2006.01.012
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研究主题发展历程
节点文献
折射率渐变
光纤Bragg光栅
相位掩模
少模光纤
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
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