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文献信息
篇名 泰瑞达因为测试很重要
来源期刊 半导体行业 学科 工学
关键词 芯片测试 摩尔定律 麻省理工学院 自动测试设备 泰瑞达公司 马萨诸塞州 集成芯片 控制集成
年,卷(期) 2006,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 20-23
页数 4页 分类号 TN407
字数 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
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2006(0)
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研究主题发展历程
节点文献
芯片测试
摩尔定律
麻省理工学院
自动测试设备
泰瑞达公司
马萨诸塞州
集成芯片
控制集成
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体行业
双月刊
无锡市梁溪路14号
出版文献量(篇)
1222
总下载数(次)
6
总被引数(次)
0
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