真空开关投切电容器组重燃问题的分析与对策

• 作者: 张玉珍 李禹成
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 真空断路器 真空灭弧室 投切电容器组 重燃
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 工艺与应用
• 页码范围: 65-68
• 页数: 4页
• 分类号: TM5
• 字数: 4955字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8935.2006.05.018

摘要

通过归纳真空开关在投切电容器组时发生重燃现象的特点,提出了发生重燃的根本原因是分闸操作中的机械振动引起灭弧室内的微粒释放所造成的,并用微粒击穿理论对真空开关在投切电容器组试验过程中发生的各种现象进行了解释,最后提出了提高真空开关投切电容器组可靠性应采取的措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张玉珍		8	7	1.0	2.0
2	李禹成		3	8	2.0	2.0