X波段低损耗材料复介电常数自动测量系统

• 作者: 李巍 杨金孝 韦高
• 来源期刊: 宇航材料工艺
• 学科: 工学
• 关键词: 圆柱谐振腔 介电常数 损耗角正切 品质因数
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 测试分析
• 页码范围: 61-64
• 页数: 4页
• 分类号: TP2
• 字数: 2239字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2330.2006.06.016

摘要

介绍了用圆柱谐振腔测量低损耗介质材料复介电常数的自动测量系统.该系统可根据加载介质前后圆柱谐振腔的谐振频率和品质因数,计算出被测材料的相对介电常数ε'r和损耗角正切tanδ.系统设计时,采用对固定尺寸的圆柱谐振腔进行扫频测量的方法,提高了测量精度;采用反相馈电和在腔壁开槽的方法来抑制干扰模式.用此系统对几种低损耗材料进行测量,结果令人满意.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韦高	西北工业大学电子信息学院	91	723	11.0	24.0
2	李巍	西北工业大学电子信息学院	3	15	3.0	3.0
4	杨金孝	西北工业大学电子信息学院	32	315	9.0	17.0