La1-xSrxCoO3体系的绝缘体-金属相变

• 作者: 何雪竹 余虹 蒋丽珍 邬良能
• 来源期刊: 中国计量学院学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 钙钛矿 晶格参数 电阻率
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 页码范围: 224-227
• 页数: 4页
• 分类号: O482.4
• 字数: 2479字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1540.2006.03.013

摘要

通过粉末X射线衍射分析确定了钙钛矿氧化物La1-xSrxCoO3(0.1≤x≤0.5)体系的结构,由Rietveld方法拟合得到晶格参数随Sr掺杂量的变化.在80～300 K温度范围的直流电阻率测量表明,材料的电性质在x=0.2和x=0.3之间展示了从半导体到金属的相变.x=0,2样品已接近绝缘体-金属(I-M)相变的边缘.研究结果表明,La1-xSrxCoO3(0.1≤x≤0.5)体系的I-M相变不仅依赖于Sr浓度x,也依赖于样品的制备技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邬良能	中国计量学院理学院	20	40	4.0	5.0
2	余虹	杭州师范学院基础教育学院	6	61	4.0	6.0
3	蒋丽珍	中国计量学院理学院	8	13	2.0	3.0
4	何雪竹		3	8	2.0	2.0