基于过采样的DS-SS/BPSK信号延迟相乘多重相关检测

• 作者: 周劼 张伟 张健
• 来源期刊: 信息与电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 直接序列扩谱/二进制相移键控 延迟相乘 过采样 多重相关
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 351-355
• 页数: 5页
• 分类号: TN91
• 字数: 3222字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2892.2006.05.007

摘要

提出一种基于过采样的直接序列扩谱(Direct-Sequence Spread Spectrum,DS-SS)/二进制相移键控(Binary Phase Shift Keyed,BPSK)信号延迟相乘多重相关检测方法,并推导了延迟相乘相关原理,分析了基于过采样的延迟相乘相关方法对输出信噪比(Signalto Noise Ratio,SNR)的影响.理论推导和仿真证明,基于过采样的延迟相乘恢复DS-SS/BPSK信号载波方法保留了待测信号中噪声的高斯白噪声特性;采用多重相关的方法还可进一步提高输出信噪比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周劼	中国工程物理研究院电子工程研究所	34	129	6.0	8.0
2	张健	中国工程物理研究院电子工程研究所	80	595	12.0	20.0
3	张伟	中国工程物理研究院电子工程研究所	26	104	5.0	9.0