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摘要:
中心遮拦干涉图的圆Zernike多项式拟合存在交叉耦合现象,进而影响到Seidel像差的计算.利用干涉仪数据处理软件提供的Mask功能构造出一系列不同遮拦比的中心遮拦干涉图并计算出其圆Zernike拟合系数,结合自编软件判断出被测非球面镜的中心遮拦比对于5项Seidel像差是否达到阈值,给出了具体的实现流程,并对口径为700 mm、中心遮拦比为0.23的抛物面主镜进行了实验研究.分析结果表明,该优化分析方法简单易行,基于标准干涉数据处理软件,无需编写复杂的数据格式转化和多项式拟合程序,即可得到相对较准确的Seidel像差估计值.
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文献信息
篇名 中心遮拦非球面主镜Seidel像差拟合分析的优化
来源期刊 光电子·激光 学科 物理学
关键词 光学测量 干涉计量 优化分析 Zernike多项式 中心遮拦干涉图 Seidel像差
年,卷(期) 2006,(5) 所属期刊栏目 光电子器件和系统
研究方向 页码范围 568-572
页数 5页 分类号 O435.2
字数 2871字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1005-0086.2006.05.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴时彬 中国科学院光电技术研究所 52 587 16.0 22.0
2 伍凡 中国科学院光电技术研究所 79 917 19.0 25.0
3 侯溪 中国科学院光电技术研究所 28 403 12.0 19.0
7 杨力 中国科学院光电技术研究所 66 783 17.0 26.0
8 陈强 中国科学院光电技术研究所 80 815 18.0 25.0
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研究主题发展历程
节点文献
光学测量
干涉计量
优化分析
Zernike多项式
中心遮拦干涉图
Seidel像差
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光电子·激光
月刊
1005-0086
12-1182/O4
大16开
天津市南开区红旗南路263号
6-123
1990
chi
出版文献量(篇)
7085
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11
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