环氧树脂648和TDE-85的质子辐照损伤效应研究

• 作者: 何世禹 姜利祥 盛磊 陈平
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 质子辐照 环氧树脂 质量损失 弯曲强度 碳化效应
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 134-137
• 页数: 4页
• 分类号: O434.2|V45
• 字数: 3075字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2006.03.002

摘要

通过地面模拟空间环境质子辐照条件(质子能量Ep=150keV,束流密度A=2.0×1012cm-2·s-1,辐照剂量范围Φ=(0～5.0)×1016cm-2;真空度10-6Pa,环境温度120 K),研究了不同辐照剂量下环氧树脂浇注体648和TDE-85的质量损失、弯曲强度和表面相糙度的变化.试验结果表明,随着辐照剂量的增加,质量损失呈现先加速递增后趋于平缓的趋势;648的弯曲强度呈单边下降趋势,TDE-85的弯曲强度呈现先上升后下降的趋势,树脂表面产生了碳化效应,表面粗糙度发生了不同程度的变化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜利祥		10	134	6.0	10.0
3	何世禹		122	1160	17.0	24.0
6	盛磊		1	0	0.0	0.0
7	陈平		1	0	0.0	0.0