电荷耦合器件质子辐照效应研究

• 作者: 任晓堂 刘敏波 唐本奇 巩玲华 张勇 王祖军 肖志刚 黄绍艳
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 静电加速器 质子辐照效应 电荷耦合器件
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 110-113
• 页数: 4页
• 分类号: TN99
• 语种: 中文

摘要

利用2×6 MV串列静电加速器提供的1～10 MeV质子,开展了线阵电荷耦合器件辐射损伤效应的模拟试验和测量.研制了加速器质子扩束扫描装置及电荷耦合器件辐射敏感参数测量系统,建立了电荷耦合器件质子辐射效应的模拟试验方法,分析了质子注量、质子能量、器件偏置等对器件电荷转移效率和暗电流的影响.模拟试验结果表明,电荷转移效率随辐照质子注量的增加而下降,暗电流随辐照质子注量的增加而增大,在1～10 MeV质子能量范围内,质子能量越低,电荷转移效率的降低与暗电流的增加越显著.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐本奇		32	248	9.0	13.0
2	王祖军		22	178	7.0	12.0
3	刘敏波		22	147	8.0	10.0
4	肖志刚		29	227	8.0	13.0
5	张勇		23	200	8.0	12.0
6	黄绍艳		27	220	8.0	13.0
7	巩玲华	北京大学重离子物理研究所	8	26	3.0	5.0
8	任晓堂	北京大学重离子物理研究所	8	14	2.0	3.0