电荷耦合器件的60Coγ射线辐照损伤退火效应

• 作者: 于跃 任迪远 兰博 李茂顺 李鹏伟 郭旗
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 商用CCD 氧化物电荷 界面态 退火效应
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 603-607
• 分类号: TN386.5
• 语种: 中文

摘要

基于60Co γ射线辐照后的商用电荷耦合器件(CCD),对室温退火和100 ℃高温退火实验进行研究.考察了CCD的功耗电流、输出信号电压波形及光响应灵敏度等参数的变化.结果表明,CCD辐照过程中产生的氧化物电荷和界面态导致了CCD参数在室温和高温退火中的不同表现.