掺杂的AgCl微晶在化学增感条件下的光电子衰减特性

• 作者: 代秀红 孟涛 李晓苇 江晓利 董国义 赵晓辉 韩理
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 工学
• 关键词: 氯化银 浅电子陷阱 S+Au增感 掺杂 光电子衰减谱
• 年，卷（期）: 2006,（9）
• 页码范围: 1581-1583
• 页数: 3页
• 分类号: TQ57
• 字数: 2140字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0593.2006.09.004

摘要

利用微波吸收介电谱技术研究了K4Fe(CN)6浅电子陷阱掺杂剂和S+Au增感剂对立方体AgCl微晶光生电子衰减时间分辨特性的影响.结果表明,掺杂浓度为10-8～10-7mol·mol-1Ag时,在增感之前,掺杂位置越接近表面时,光电子衰减过程会变慢,即衰减时间增加;S+Au增感后的掺杂乳剂中光电子衰减变快,说明了增感中心起深电子陷阱作用,当掺杂位置接近表面90%Ag时,光电子衰减时间突然减小,说明表面掺杂中心和增感中心可能发生了某些反应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓苇	河北大学物理科学与技术学院	136	473	10.0	13.0
2	韩理	河北大学物理科学与技术学院	39	204	8.0	11.0
3	江晓利	河北大学物理科学与技术学院	15	31	3.0	5.0
4	赵晓辉	河北大学物理科学与技术学院	41	76	5.0	5.0
5	董国义	河北大学物理科学与技术学院	58	363	11.0	16.0
6	代秀红	河北大学物理科学与技术学院	28	22	3.0	3.0
7	孟涛	河北大学物理科学与技术学院	5	18	3.0	4.0