掺杂AgCl中光电子衰减特性研究

• 作者: 代秀红 张荣香 李晓苇 杨少鹏 董国义 韩理
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 微波吸收介电谱 掺杂浓度 光电子衰减 浅电子陷阱
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 页码范围: 1142-1145,1159
• 页数: 5页
• 分类号: O734
• 字数: 2891字
• 语种: 中文

摘要

利用微波吸收介电谱检测技术,检测均匀掺杂[Fe(CN)_6]~(4-)盐的立方体AgCl微晶首次曝光后的自由和浅束缚光电子的衰减时间分辨谱.实验发现,随着掺杂浓度的增加,样品中自由光电子衰减时间逐渐从未掺杂时的116 ns延长至1133 ns.分析光电子衰减曲线还同时得到,随着掺杂浓度的增加,光电子的前期较慢衰减过程逐渐变快,后期较快衰减过程逐渐变慢,总体上衰减时间逐渐增加,且掺杂浓度变化对后期衰减影响较大.研究表明掺杂使得晶体中引入了能总体上延缓光电子衰减的浅电子陷阱,并且随掺杂浓度的增加,浅电子陷阱特征更加明显.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓苇	河北大学物理科学与技术学院	136	473	10.0	13.0
2	韩理	河北大学物理科学与技术学院	39	204	8.0	11.0
3	杨少鹏	河北大学物理科学与技术学院	60	217	8.0	12.0
4	张荣香	河北大学物理科学与技术学院	25	34	3.0	4.0
5	董国义	河北大学物理科学与技术学院	58	363	11.0	16.0
6	代秀红	河北大学物理科学与技术学院	28	22	3.0	3.0