Nd:GGG晶体荧光寿命的测试

• 作者: 孙晶 张喜和 李昌立 蔡红星
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 物理学
• 关键词: Nd:GGG晶体 荧光寿命 脉冲取样技术 低频窄脉宽
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 光电检测
• 页码范围: 50-52
• 页数: 3页
• 分类号: O432.1+2
• 字数: 1726字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-3392.2006.04.015

摘要

针对Nd:GGG激光器,介绍了荧光寿命测试原理,设计了低频窄脉宽荧光寿命测试系统.该系统由光源、光路系统、驱动电路和探测系统等几部分组成.利用脉冲取样技术测试了Nd:GGG晶体的荧光寿命约为250μs左右.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙晶	长春理工大学理学院	93	444	11.0	15.0
2	张喜和	长春理工大学理学院	88	397	10.0	13.0
3	李昌立	长春理工大学理学院	32	162	8.0	10.0
4	蔡红星	长春理工大学理学院	58	238	8.0	11.0