阵列天线互阻抗矩阵测量的新方法

• 作者: 王新 蔡磊
• 来源期刊: 应用科技
• 学科: 工学
• 关键词: 阵列天线 互阻抗矩阵测量 复反射系数
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 所属期刊栏目: 现代电子技术
• 页码范围: 26-29
• 页数: 4页
• 分类号: TN822
• 字数: 3238字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-671X.2006.07.008

摘要

为适应舰载超视距雷达的复杂电磁环境,提出一种新的测量阵列天线的互阻抗矩阵的方法,通过测量阵列天线各单元的复反射系数来计算天线的互阻抗矩阵.文中给出了测量方法的原理及推导过程,并给出测量系统的原理框图.与其他方法相比,该测量方法简单快捷,易于实现,有很好的实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王新	哈尔滨工业大学电子工程技术研究所	18	107	5.0	10.0
2	蔡磊	哈尔滨工业大学电子工程技术研究所	2	5	1.0	2.0